Übungsaufgaben zu Messungen mit dem Oszilloskop: Tastkopf, Frequenzzähler, Triggerung und Abtastrate
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Oszilloskop, Tastkopf, Logikanalysator, Oszillator, Frequenzzähler, Protokolldekodierung, Triggerbedingung, Abtastrate, Aliasing, Anstiegszeit, Übungsaufgaben, Prüfungsvorbereitung
tl/dr; (Bearbeitungszeit insgesamt 61 min, mehrere Aufgaben): Drei Übungsaufgaben zu Messungen mit dem Oszilloskop an einem LC-Oszillator und mit dem Logikanalysator an den Schnittstellen einer Messstation – vom Abgleich des Tastteilers über die Rückwirkung des Tastkopfs auf die Frequenz, die digitale Frequenzmessung mit Torzeit und die Triggerbedingung für Aussetzer bis zu Abtastrate, Aliasing und Anstiegszeit – dazu Einstellung des Logikanalysators, Dekodierung von I²C und UART, falsche Adresse, verletzte Wartezeit, falsche Baudrate und zu große Pull-ups. Zu jeder Teilaufgabe lässt sich eine Beispiellösung einblenden [AI-Assisted]. (Zuletzt geändert am 11.11.2026)
Diese Übungsaufgaben gehören zum Artikel Messungen mit dem Oszilloskop: Tastkopf, Triggerung, Zeit-, Frequenz- und Phasenmessung. Die Grundlagen der Bedienung übst Du mit den Übungsaufgaben zu Oszilloskop und Funktionsgenerator.
Hinweise zur Bearbeitung: Als EGS oder IEGS musst Du zur Teil-2- bzw. Abschlussprüfung Aufgaben auf Kernkompetenz-Ebene lösen können, das ist Aufgabe 2.1. Aufgaben auf Expertise-Ebene (Aufgabe 4.1) gehen darüber hinaus. Die Beispiellösungen sind immer gleich aufgebaut: Unter Geg. steht, was gegeben ist (bei mehreren Teilaufgaben gemeinsam in der ersten), unter Ges., was gesucht ist. Jede Formel steht zuerst in ihrer Grundform; Umstellungen sind Äquivalenzumformungen, deren Rechenschritt grau rechts neben dem senkrechten Strich steht (Division mit „:“). Einfache Formeln werden römisch nummeriert und ineinander eingesetzt („I in II“), längere Rechnungen nacheinander mit drei signifikanten Stellen. Ergebnisse stehen mit drei signifikanten Stellen doppelt unterstrichen, gerundete mit \approx; wurde mit gerundeten Zwischenergebnissen gerechnet, steht das Ergebnis ohne Rundung darunter. Rechne selbst ebenso mit Formel, eingesetzten Werten und Einheit. Bei „nennen“ genügen Stichworte, bei „beschreiben“, „erläutern“ und „begründen“ antwortest Du in ganzen Sätzen. Schreib Deine Lösung zuerst vollständig auf, bevor Du die Beispiellösung einblendest.
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Tastkopf, Frequenzzähler, Triggerung und Abtastrate“.
Bauplan: Halte Dich an Aufbau, Kompetenzstufen, Operatoren,
Anforderungsbereiche, Punkte und Zeitschätzung, die im Artikel
https://oer-informatik.de/aufgaben-aufbau beschrieben sind.
Fachliche Grundlage:
- https://oer-informatik.de/oszilloskop-messungen
- https://oer-informatik.de/i2c-bus
- https://oer-informatik.de/uart-rs232
- https://oer-informatik.de/spi-bus
- Stilbeispiel: https://oer-informatik.de/oszilloskop-messungen-uebungsaufgaben
Die Aufgaben sollen Inhalte zu diesen Schlagwörtern abdecken:
- Oszilloskop
- Tastkopf
- Logikanalysator
- Oszillator
- Frequenzzähler
- Protokolldekodierung
- Triggerbedingung
- Abtastrate
- Aliasing
- Anstiegszeit
Kompetenzstufe: Kernkompetenz (alternativ: Basiskompetenz, Profilkompetenz, Expertise)
Anzahl: 1 Aufgabe mit Teilaufgaben
Bearbeitungszeit in Minuten ca.: <5 bis 30 min>
Szenario: eines der Szenarien aus dem Bauplan
Vorgehen:
1. Lies zuerst die verlinkten Artikel. Kannst Du keine Webseiten
abrufen, sag mir das, statt zu raten.
2. Steht bei einer Angabe noch ein Platzhalter in <…>, frag mich
zuerst danach. Richte Punkte und Zahl der Teilaufgaben nach der
Bearbeitungszeit (ca. 0,9 min je Punkt).
3. Gib je Aufgabe Titel mit Kompetenzstufe, Ausgangssituation und
Teilaufgaben mit Operator und Punktzahl aus, dazu die geschätzte
Bearbeitungszeit.
4. Gib die Beispiellösungen mit Punkteverteilung erst aus, wenn ich
danach frage.
Aufgabe 2.1: Frequenz eines LC-Oszillators prüfen (Kernkompetenz)
(ca. 23 min Bearbeitungszeit)
In der Ausbildungswerkstatt wird ein Metallsuchgerät aus einem Bausatz in Betrieb genommen. Sein Herz ist ein LC-Oszillator mit einer Suchspule L = 1\ \mathrm{mH} und einem Schwingkreiskondensator C = 330\ \mathrm{pF}. Hinter dem Oszillator liegt eine Pufferstufe (Emitterfolger), deren Ausgang die Auswerteschaltung speist. Du sollst mit einem Zweikanal-Speicheroszilloskop und einem Frequenzzähler prüfen, ob der Oszillator richtig arbeitet. Zur Verfügung stehen ein Tastkopf 1 : 1 und ein Tastteiler 10 : 1. Laut Datenblatt hat das Oszilloskop einen Eingangswiderstand von R_\mathrm{E} = 1\ \mathrm{M\Omega} und eine Eingangskapazität von C_\mathrm{E} = 16\ \mathrm{pF}; das Tastkopfkabel hat C_\mathrm{L} = 74\ \mathrm{pF}, der Längswiderstand im Tastteiler R_1 = 9\ \mathrm{M\Omega}.
a) Dein Mitschüler will den Tastkopf 1 : 1 nehmen, „weil man dann nicht umrechnen muss“. Begründe mit zwei Eigenschaften, warum für die Messung am Oszillator der Tastteiler 10 : 1 besser geeignet ist, und gib an, was Du beim Tastteiler in Kauf nimmst. (3 Punkte)
Geg.: LC-Oszillator L = 1\ \mathrm{mH}, C = 330\ \mathrm{pF}; Oszilloskop R_\mathrm{E} = 1\ \mathrm{M\Omega}, C_\mathrm{E} = 16\ \mathrm{pF}; Tastkopfkabel C_\mathrm{L} = 74\ \mathrm{pF}; Tastteiler R_1 = 9\ \mathrm{M\Omega}
Ges.: Begründung für den Tastteiler 10 : 1 mit zwei Eigenschaften, Nachteil
Eigenschaften (je 1 Punkt, zwei davon):
Die kapazitive Belastung ist etwa zehnmal kleiner. Der Schwingkreis wird dadurch kaum verstimmt.
Der Eingangswiderstand ist mit 10\ \mathrm{M\Omega} zehnmal größer; der Schwingkreis wird weniger gedämpft und hört nicht so leicht auf zu schwingen.
Die Bandbreite ist höher, Flanken und Signalform werden richtig dargestellt.
In Kauf genommen wird (1 Punkt): Das Signal wird durch 10 geteilt; kleine Spannungen sind schlechter zu sehen (geringere Empfindlichkeit, mehr Rauschen). Außerdem muss der Tastteiler abgeglichen und der Teilerfaktor am Kanal eingestellt werden.
b) Berechne die Kapazität C_\mathrm{K}, auf die der Trimmer im Tastteiler abgeglichen sein muss, und die Kapazität C_\mathrm{ein}, mit der der abgeglichene Tastteiler den Messpunkt belastet. (4 Punkte)
Ges.: C_\mathrm{K}, C_\mathrm{ein}
\begin{aligned} &\text{(I)} && R_1 \cdot C_\mathrm{K} = R_\mathrm{E} \cdot (C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E}) \\ &\text{(II)} && \frac{1}{C_\mathrm{ein}} = \frac{1}{C_\mathrm{K}} + \frac{1}{C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E}} \end{aligned}
\def\arraystretch{2.3} \begin{array}{rcl|l} R_1 \cdot C_\mathrm{K} & = & R_\mathrm{E} \cdot (C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E}) & \color{gray}{:R_1} \\ C_\mathrm{K} & = & \frac{R_\mathrm{E} \cdot (C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E})}{R_1} & \\ C_\mathrm{K} & = & \frac{1\ \mathrm{M\Omega} \cdot (74\ \mathrm{pF} + 16\ \mathrm{pF})}{9\ \mathrm{M\Omega}} & \\ C_\mathrm{K} & = & \underline{\underline{10{,}0\ \mathrm{pF}}} & \end{array}
(2 Punkte)
Aus II folgt für zwei Kapazitäten in Reihe:
\def\arraystretch{2.3} \begin{array}{rcl|l} C_\mathrm{ein} & = & \frac{C_\mathrm{K} \cdot (C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E})}{C_\mathrm{K} + C_\mathrm{L} + C_\mathrm{E}} & \\ C_\mathrm{ein} & = & \frac{10{,}0\ \mathrm{pF} \cdot 90\ \mathrm{pF}}{10{,}0\ \mathrm{pF} + 90\ \mathrm{pF}} & \\ C_\mathrm{ein} & = & \underline{\underline{9{,}00\ \mathrm{pF}}} & \end{array}
(2 Punkte) Der Messpunkt wird nur noch mit einem Zehntel der 90\ \mathrm{pF} belastet, die der Tastkopf 1 : 1 hätte.
c) Berechne die Resonanzfrequenz f_0 des Oszillators ohne Messgerät. Beurteile anschließend, um wie viel Prozent sich die Frequenz ändert, wenn Du direkt am Schwingkreis (-MP1) misst, einmal mit dem Tastkopf 1 : 1 (90\ \mathrm{pF}) und einmal mit dem abgeglichenen Tastteiler. Der Eingangswiderstand soll dabei vernachlässigt werden. (5 Punkte)
Ges.: f_0; Änderung der Frequenz mit Tastkopf 1 : 1 und mit Tastteiler 10 : 1; Beurteilung
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_0 = \frac{1}{2 \pi \sqrt{L \cdot C}} \\ &\text{(II)} && f_\mathrm{mit} = \frac{1}{2 \pi \sqrt{L \cdot (C + C_\mathrm{ein})}} \end{aligned}
f_0 = \frac{1}{2 \pi \sqrt{1\ \mathrm{mH} \cdot 330\ \mathrm{pF}}} \approx \underline{\underline{277\ \mathrm{kHz}}}
(1 Punkt)
II durch I geteilt ergibt das Frequenzverhältnis ohne Zwischenrundung:
\frac{f_\mathrm{mit}}{f_0} = \sqrt{\frac{C}{C + C_\mathrm{ein}}}
Tastkopf 1 : 1 (C_\mathrm{ein} = 90\ \mathrm{pF}):
\frac{f_\mathrm{mit}}{f_0} = \sqrt{\frac{330\ \mathrm{pF}}{420\ \mathrm{pF}}} \approx 0{,}886 \qquad f_\mathrm{mit} \approx \underline{\underline{246\ \mathrm{kHz}}} \qquad \Delta f \approx \underline{\underline{-11{,}4\ \%}}
(2 Punkte)
Tastteiler 10 : 1 (C_\mathrm{ein} = 9{,}00\ \mathrm{pF}):
\frac{f_\mathrm{mit}}{f_0} = \sqrt{\frac{330\ \mathrm{pF}}{339\ \mathrm{pF}}} \approx 0{,}987 \qquad f_\mathrm{mit} \approx \underline{\underline{273\ \mathrm{kHz}}} \qquad \Delta f \approx \underline{\underline{-1{,}34\ \%}}
(1 Punkt)
| Messung am Schwingkreis | wirksame Kapazität | Frequenz | Änderung |
|---|---|---|---|
| ohne Messgerät | 330\ \mathrm{pF} | 277\ \mathrm{kHz} | – |
| Tastkopf 1 : 1 | 420\ \mathrm{pF} | 246\ \mathrm{kHz} | -11{,}4\ \% |
| Tastteiler 10 : 1 | 339\ \mathrm{pF} | 273\ \mathrm{kHz} | -1{,}34\ \% |
Beurteilung (1 Punkt): Mit dem Tastkopf 1 : 1 ist die Messung am Schwingkreis unbrauchbar, die Frequenz sinkt um mehr als ein Zehntel, und die Dämpfung kann den Oszillator sogar stoppen. Auch der Tastteiler verstimmt den Schwingkreis noch um über 1 %. Weil ein Metallsuchgerät gerade kleine Frequenzänderungen auswertet, ist auch das zu viel; direkt am Schwingkreis sollte gar nicht gemessen werden.
d) Beschreibe, wie Du die Frequenz des Oszillators möglichst rückwirkungsarm misst. (2 Punkte)
Ges.: Vorgehen für eine rückwirkungsarme Frequenzmessung
Gemessen wird nicht am Schwingkreis, sondern am Ausgang der Pufferstufe. Der Emitterfolger trennt den Schwingkreis von der Belastung durch das Messgerät (1 Punkt).
Dort den Frequenzzähler bzw. das Oszilloskop mit abgeglichenem Tastteiler 10 : 1 und kurzer Masseverbindung anschließen; zur Kontrolle prüfen, ob sich die Funktion der Auswerteschaltung beim Anlegen des Tastkopfs ändert (1 Punkt).
e) Erkläre, wie ein digitaler Frequenzzähler die Frequenz bestimmt. Gehe dabei auf Schmitt-Trigger, Torzeit und Zähler ein. (3 Punkte)
Ges.: Funktionsweise des digitalen Frequenzzählers
Ein Eingangsverstärker mit Schmitt-Trigger formt das Messsignal in saubere Rechteckimpulse um; die Hysterese verhindert, dass eine verrauschte Flanke mehrfach gezählt wird (1 Punkt).
Aus einem Quarzoszillator wird über einen Teiler eine genaue Torzeit t_\mathrm{T} abgeleitet. Nur während dieser Zeit lässt ein Tor (UND-Glied) die Impulse durch (1 Punkt).
Der Zähler zählt die Impulse N während der Torzeit; am Ende wird der Zählerstand gespeichert und angezeigt, die Frequenz ist f_x = N : t_\mathrm{T}. Danach wird der Zähler zurückgesetzt (1 Punkt).
f) Am Ausgang der Pufferstufe (-MP2) zeigt der Frequenzzähler bei einer Torzeit von 100\ \mathrm{ms} den Zählerstand 27\,705. Berechne die Frequenz und gib die Auflösung der Messung sowie die relative Abweichung durch ±1 Digit an. (4 Punkte)
Geg.: t_\mathrm{T} = 100\ \mathrm{ms}, N = 27\,705
Ges.: f_x, Auflösung \Delta f, relative Abweichung durch ±1 Digit
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_x = \frac{N}{t_\mathrm{T}} \\ &\text{(II)} && \Delta f = \frac{1}{t_\mathrm{T}} \end{aligned}
f_x = \frac{27\,705}{0{,}1\ \mathrm{s}} = 277\,050\ \mathrm{Hz} \approx \underline{\underline{277\ \mathrm{kHz}}}
(2 Punkte; angezeigt werden alle Stellen, also 277{,}05\ \mathrm{kHz})
\Delta f = \frac{1}{0{,}1\ \mathrm{s}} = \underline{\underline{10{,}0\ \mathrm{Hz}}}
(1 Punkt)
\frac{\Delta f}{f_x} = \frac{1}{N} = \frac{1}{27\,705} \approx \underline{\underline{3{,}61 \cdot 10^{-5} = 36{,}1\ \mathrm{ppm}}}
(1 Punkt) Die Frequenz liegt also zwischen etwa 277{,}04\ \mathrm{kHz} und 277{,}06\ \mathrm{kHz}; dazu kommt noch die Abweichung der Quarz-Zeitbasis.
g) Beim Probelauf piept das Metallsuchgerät gelegentlich ohne Grund. Vermutet wird, dass der Oszillator für einige Perioden aussetzt. Wähle ein geeignetes Messgerät und eine Triggerbedingung, mit der Du einen solchen Aussetzer einfängst, und begründe Deine Wahl. (4 Punkte)
Ges.: Messgerät, Triggerbedingung, Begründung
Messgerät: ein Speicheroszilloskop am Ausgang der Pufferstufe (1 Punkt). Ein Frequenzzähler zeigt nur einen Mittelwert über die Torzeit, ein Multimeter ist viel zu langsam; ein Aussetzer von einigen Perioden dauert nur wenige Mikrosekunden.
Triggerbedingung: Timeout-Trigger (Dropout). Die Periodendauer ist T = \frac{1}{277\ \mathrm{kHz}} \approx 3{,}61\ \mu\mathrm{s}; der Trigger löst aus, wenn z. B. länger als 5\ \mu\mathrm{s} keine steigende Flanke kommt. Im Normalbetrieb löst er nie aus (1 Punkt). Gleichwertig: Impulsbreiten-Trigger auf Impulse länger als etwa 2\ \mu\mathrm{s}.
Betriebsart NORMAL oder SINGLE, Triggerposition so, dass ein Teil der Aufzeichnung vor dem Ereignis liegt (Vortrigger), damit Du siehst, wie der Aussetzer beginnt (1 Punkt).
Den zweiten Kanal z. B. an die Versorgungsspannung legen, um zu sehen, ob ein Spannungseinbruch die Ursache ist; mit Segmentspeicher oder Historie lassen sich mehrere Aussetzer vergleichen (1 Punkt).
Aufgabe 3.1: Fehlersuche an den Schnittstellen einer Raumklima-Messstation (Profilkompetenz)
(ca. 26 min Bearbeitungszeit)
In der Ausbildungswerkstatt entsteht eine Raumklima-Messstation. Ein Mikrocontroller mit 3{,}3\ \mathrm{V} Versorgung fragt alle 2\ \mathrm{s} einen Feuchtesensor über I²C mit 100\ \mathrm{kHz} ab, schickt die Messwerte über UART (vorgesehen: 115\,200\ \mathrm{Bd}, 8N1) an einen PC und steuert über SPI (4\ \mathrm{MHz}, Modus 0) ein kleines Grafikdisplay an, das nur Daten empfängt. Beim ersten Test zeigt das Display „Sensorfehler“, und das Terminalprogramm am PC gibt nur unlesbare Zeichen aus.
Für die Fehlersuche steht ein USB-Logikanalysator zur Verfügung: 16 Kanäle, einstellbare Schaltschwelle, Abtastraten 1, 2, 5, 10, 20, 50 und 100\ \mathrm{MSa/s}, Speicher für 64 \cdot 10^6 Abtastwerte je Kanal, Protokolldekoder für UART, I²C und SPI.
Auszug aus dem Datenblatt des Feuchtesensors:
| Angabe | Wert |
|---|---|
| I²C-Adresse (7 Bit) | 0x38 (Pin ADR an GND), 0x39 (Pin ADR an VDD) |
| Messbefehl | 0xE3 |
| Wandlungszeit nach dem Messbefehl | mindestens 15\ \mathrm{ms}; vorher antwortet der Sensor beim Lesen mit NACK |
| Messwert | 2 Byte, höherwertiges Byte zuerst |
| Umrechnung | relative Luftfeuchte \varphi = \text{Rohwert} \cdot 0{,}01\ \% |
Auf der Platine ist der Pin ADR des Sensors mit GND verbunden.
a) Lege für eine gemeinsame Aufzeichnung aller drei Schnittstellen die Kanalbelegung und die Schaltschwelle fest. Berechne die kleinste Abtastrate nach der Faustregel, wähle eine passende Abtastrate des Geräts und berechne die Aufzeichnungsdauer. Beurteile, ob eine Aufzeichnung sicher eine vollständige Sensorabfrage enthält. (4 Punkte)
Geg.: Mikrocontroller 3{,}3\ \mathrm{V}; I²C 100\ \mathrm{kHz}; UART 115\,200\ \mathrm{Bd} (Soll); SPI f_\mathrm{SPI} = 4\ \mathrm{MHz}, Modus 0; Sensorabfrage alle 2\ \mathrm{s}; Logikanalysator mit 16 Kanälen, N = 64 \cdot 10^6 Abtastwerte, Abtastraten 1 bis 100\ \mathrm{MSa/s}; Sensoradresse 0x38
Ges.: Kanalbelegung, Schaltschwelle, f_\mathrm{A,min}, gewählte f_\mathrm{A}, t_\mathrm{Auf}, Beurteilung
Kanalbelegung und Schwelle (1 Punkt): Masse des Analysators an GND der Messstation; Kanäle für SCL, SDA (I²C), TX (UART, bei Bedarf auch RX), CS, SCLK, MOSI (SPI; MISO entfällt, weil das Display nur empfängt), also sechs bis sieben Kanäle. Schaltschwelle etwa die halbe Versorgungsspannung, 1{,}65\ \mathrm{V}.
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_\mathrm{A} \geq 4 \cdot f_\mathrm{Bit} \\ &\text{(II)} && t_\mathrm{Auf} = \frac{N}{f_\mathrm{A}} \end{aligned}
Der schnellste Takt ist der SPI-Takt:
f_\mathrm{A,min} = 4 \cdot 4\ \mathrm{MHz} = \underline{\underline{16{,}0\ \mathrm{MSa/s}}}
(1 Punkt) Gewählt: die nächsthöhere Abtastrate des Geräts, f_\mathrm{A} = 20\ \mathrm{MSa/s}.
t_\mathrm{Auf} = \frac{64 \cdot 10^6}{20 \cdot 10^6\ \mathrm{s^{-1}}} = \underline{\underline{3{,}20\ \mathrm{s}}}
(1 Punkt)
Beurteilung (1 Punkt): 3{,}2\ \mathrm{s} sind länger als der Abfragezyklus von 2\ \mathrm{s}, jede Aufzeichnung enthält also mindestens eine vollständige Sensorabfrage. Mit 50\ \mathrm{MSa/s} (Zehnfaches des SPI-Takts wäre 40\ \mathrm{MSa/s}) reichte der Speicher nur für 1{,}28\ \mathrm{s}; dann wäre ein Trigger auf die Abfrage nötig (Teilaufgabe c).
b) Dein Mitschüler möchte lieber das Zweikanal-Oszilloskop der Werkstatt nehmen. Grenze Logikanalysator und Oszilloskop für diese Fehlersuche voneinander ab, und nenne eine Situation an der Messstation, in der Du das Oszilloskop trotzdem brauchst. (3 Punkte)
Ges.: Abgrenzung Logikanalysator – Oszilloskop, Situation für das Oszilloskop
Der Logikanalysator zeichnet alle sechs bis sieben Leitungen gleichzeitig auf und dekodiert I²C, UART und SPI zu Adressen, Daten und Quittungen. Die Aufzeichnung ist lang genug für einen ganzen Abfragezyklus (1 Punkt).
Das Zweikanal-Oszilloskop zeigt den Spannungsverlauf nur zweier Leitungen, also höchstens eine I²C-Schnittstelle, und zeichnet kürzer auf. Dafür sieht man Pegel, Flankensteilheit, Überschwingen und Störimpulse; der Logikanalysator zeigt nur 0 und 1 nach der Schaltschwelle (1 Punkt).
Das Oszilloskop brauchst Du, wenn die Signalqualität fraglich ist, z. B. bei zu langsamen Flanken auf SDA und SCL, bei falschen Pegeln auf der UART-Leitung oder bei Störimpulsen; vgl. Teilaufgabe h (1 Punkt).
c) Stelle einen Trigger ein, mit dem die Aufzeichnung an der Sensorabfrage beginnt, und gib eine sinnvolle Triggerposition an. (2 Punkte)
Ges.: Triggerbedingung, Triggerposition
Trigger (1 Punkt): Protokolltrigger des I²C-Dekoders auf „Start mit Adresse
0x38“ bzw. auf die Adresse, die die Software tatsächlich sendet; ohne Protokolltrigger ein Bitmuster-Trigger auf die Startbedingung: fallende Flanke an SDA, während SCL high ist. Ein einfacher Flankentrigger auf SDA wäre ungeeignet, weil SDA bei jedem Bit wechselt.Triggerposition (1 Punkt): etwa 5 % bis 10 % der Aufzeichnung vor dem Trigger (Vortrigger), damit Du auch siehst, was kurz vor der Abfrage auf UART und SPI passiert; der Rest der Aufzeichnung (rund 3\ \mathrm{s}) zeigt die Abfrage, die Wartezeit und das Auslesen.
d) Bei jeder Sensorabfrage zeigt das Datenprotokoll des I²C-Dekoders dieselbe Folge:
| Zeit | I²C |
|---|---|
| 0,000 ms | Start |
| 0,010 ms | Adresse 0x39, Schreiben |
| 0,090 ms | NACK |
| 0,105 ms | Stopp |
Interpretiere das Datenprotokoll, und nenne die wahrscheinlichste Fehlerursache sowie eine weitere Ursache, die zum gleichen Bild führen kann. (3 Punkte)
Ges.: Interpretation, wahrscheinlichste Ursache, weitere Ursache
Interpretation (1 Punkt): Der Mikrocontroller erzeugt eine gültige Startbedingung und sendet die Adresse 0x39 mit Schreibbit. Kein Baustein zieht SDA im neunten Takt auf low, es folgt ein NACK; der Controller bricht mit der Stoppbedingung ab. Der Bus selbst funktioniert (Takt, Start, Stopp vorhanden).
Wahrscheinlichste Ursache (1 Punkt): Die Software verwendet die falsche Adresse. Weil ADR an GND liegt, meldet sich der Sensor unter
0x38;0x39gilt nur für ADR an VDD.Weitere Ursache mit gleichem Bild (1 Punkt), z. B.: Sensor nicht versorgt, SDA oder SCL zwischen Controller und Sensor unterbrochen (kalte Lötstelle, Steckverbinder), Sensor defekt oder ADR-Pin offen bzw. falsch bestückt.
e) Nach einer Änderung in der Software sieht das Datenprotokoll so aus:
| Zeit | I²C |
|---|---|
| 0,000 ms | Start |
| 0,010 ms | Adresse 0x38, Schreiben |
| 0,090 ms | ACK |
| 0,100 ms | Daten 0xE3 |
| 0,180 ms | ACK |
| 0,195 ms | Stopp |
| 4,200 ms | Start |
| 4,210 ms | Adresse 0x38, Lesen |
| 4,290 ms | NACK |
| 4,305 ms | Stopp |
Vergleiche das Datenprotokoll mit dem Datenblatt. Erläutere, warum das Lesen weiterhin scheitert, und gib an, was in der Software geändert werden muss. (3 Punkte)
Ges.: Vergleich mit dem Datenblatt, Erläuterung, Änderung in der Software
Vergleich (1 Punkt): Adresse
0x38wird jetzt quittiert, der Messbefehl0xE3ebenfalls; Adresse und Befehl stimmen mit dem Datenblatt überein. Der Lesezugriff beginnt aber schon etwa 4{,}2\ \mathrm{ms} - 0{,}195\ \mathrm{ms} \approx 4\ \mathrm{ms} nach dem Ende des Messbefehls.Erläuterung (1 Punkt): Das Datenblatt verlangt mindestens 15\ \mathrm{ms} Wandlungszeit. Der Sensor misst noch und antwortet deshalb auf seine Leseadresse mit NACK. Die Zeitbedingung ist verletzt.
Änderung (1 Punkt): In der Software die Wartezeit zwischen Messbefehl und Lesezugriff auf mindestens 15\ \mathrm{ms} verlängern, mit Reserve z. B. 20\ \mathrm{ms} (oder das Lesen bei NACK nach kurzer Pause wiederholen).
f) Nach der zweiten Änderung endet die Abfrage mit: Start, Adresse 0x38 Lesen, ACK, Daten 0x18, ACK, Daten 0x6A, NACK, Stopp. Berechne die gemessene relative Luftfeuchte, und begründe, warum nach dem zweiten Datenbyte ein NACK steht, ohne dass ein Fehler vorliegt. (3 Punkte)
Ges.: relative Luftfeuchte \varphi, Begründung für das NACK
\begin{aligned} &\text{(I)} && \text{Rohwert} = \text{MSB} \cdot 256 + \text{LSB} \\ &\text{(II)} && \varphi = \text{Rohwert} \cdot 0{,}01\ \% \end{aligned}
\text{Rohwert} = \mathtt{0x186A} = 24 \cdot 256 + 106 = 6250
(1 Punkt)
\varphi = 6250 \cdot 0{,}01\ \% = \underline{\underline{62{,}5\ \%}}
(1 Punkt) Eine relative Luftfeuchte von 62{,}5\ \% ist für einen Raum plausibel.
Begründung (1 Punkt): Beim Lesen quittiert der Controller jedes empfangene Byte selbst. Mit dem NACK nach dem letzten erwarteten Byte teilt er dem Sensor mit, dass er keine weiteren Daten will; danach folgt die Stoppbedingung. Ein NACK des Controllers am Ende eines Lesezugriffs ist also gewollt.
g) Jetzt nimmst Du die UART-Leitung TX auf (Bild). Bestimme aus der Aufzeichnung die tatsächliche Baudrate, dekodiere das übertragene Zeichen, und nenne die Ursache für die unlesbaren Zeichen am PC sowie eine Abhilfe. (4 Punkte)
Ges.: tatsächliche Baudrate, übertragenes Zeichen, Ursache, Abhilfe
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_\mathrm{Baud} = \frac{1}{T_\mathrm{Bit}} \end{aligned}
Der Cursorabstand A → B ist die Dauer des Startbits, also eine Bitdauer:
f_\mathrm{Baud} = \frac{1}{17{,}4\ \mu\mathrm{s}} \approx \underline{\underline{57{,}5\ \mathrm{kBd}}}
(1 Punkt) Der nächste übliche Wert ist 57\,600\ \mathrm{Bd}, genau die Hälfte der vorgesehenen 115\,200\ \mathrm{Bd}.
Dekodieren (2 Punkte): Rahmen in Zellen von 17{,}4\ \mu\mathrm{s} ab 20\ \mu\mathrm{s} teilen:
| Zeit in µs | Bit | Pegel |
|---|---|---|
| 20,0 … 37,4 | Start | 0 |
| 37,4 … 54,7 | D0 | 1 |
| 54,7 … 72,1 | D1 | 1 |
| 72,1 … 89,4 | D2 | 1 |
| 89,4 … 106,8 | D3 | 0 |
| 106,8 … 124,2 | D4 | 1 |
| 124,2 … 141,5 | D5 | 1 |
| 141,5 … 158,9 | D6 | 0 |
| 158,9 … 176,2 | D7 | 0 |
| ab 176,2 | Stopp | 1 |
Von D7 bis D0 gelesen: 0011 0111 = \underline{\underline{\mathtt{0x37}}}, das ist das Zeichen „7“ (z. B. eine Ziffer des Messwerts). Das Stoppbit ist high, der Rahmen ist gültig.
Ursache und Abhilfe (1 Punkt): Die Messstation sendet mit halber Baudrate, z. B. weil der Systemtakt oder der Baudratenteiler des Mikrocontrollers falsch eingestellt ist. Der PC tastet mit 115\,200\ \mathrm{Bd} ab und erkennt unsinnige Zeichen und Rahmenfehler. Abhilfe: Takt- bzw. Baudrateneinstellung in der Software korrigieren (vorübergehend kann das Terminal auf 57\,600\ \mathrm{Bd} gestellt werden).
h) Für den Einbau wird der Sensor über ein 1\ \mathrm{m} langes Kabel angeschlossen. Seitdem meldet der I²C-Dekoder gelegentlich unplausible Werte. Auf der Platine sitzen Pull-up-Widerstände mit 10\ \mathrm{k\Omega}; die Buskapazität mit Kabel schätzt Du auf 150\ \mathrm{pF}. Berechne die Anstiegszeit t_\mathrm{r} \approx 0{,}8473 \cdot R_\mathrm{P} \cdot C_\mathrm{B}, beurteile sie für 100\ \mathrm{kHz} (zulässig: 1000\ \mathrm{ns}), und bestimme den größten zulässigen Pull-up-Widerstand. Begründe, warum Du die Ursache mit dem Logikanalysator allein nicht nachweisen kannst. (4 Punkte)
Geg.: R_\mathrm{P} = 10\ \mathrm{k\Omega}, C_\mathrm{B} = 150\ \mathrm{pF}, t_\mathrm{r,max} = 1000\ \mathrm{ns}
Ges.: t_\mathrm{r}, Beurteilung, R_\mathrm{P,max}, Begründung
\begin{aligned} &\text{(I)} && t_\mathrm{r} \approx 0{,}8473 \cdot R_\mathrm{P} \cdot C_\mathrm{B} \end{aligned}
t_\mathrm{r} \approx 0{,}8473 \cdot 10\ \mathrm{k\Omega} \cdot 150\ \mathrm{pF} \approx \underline{\underline{1{,}27\ \mu\mathrm{s}}}
(1 Punkt) Beurteilung: 1{,}27\ \mu\mathrm{s} ist größer als die zulässigen 1000\ \mathrm{ns}; die Flanken sind zu langsam, die Pegel erreichen die Schaltschwelle zu spät, einzelne Bits werden falsch übernommen (1 Punkt).
\def\arraystretch{2.3} \begin{array}{rcl|l} t_\mathrm{r,max} & = & 0{,}8473 \cdot R_\mathrm{P,max} \cdot C_\mathrm{B} & \color{gray}{:(0{,}8473 \cdot C_\mathrm{B})} \\ R_\mathrm{P,max} & = & \frac{t_\mathrm{r,max}}{0{,}8473 \cdot C_\mathrm{B}} & \\ R_\mathrm{P,max} & = & \frac{1000\ \mathrm{ns}}{0{,}8473 \cdot 150\ \mathrm{pF}} & \\ R_\mathrm{P,max} & \approx & \underline{\underline{7{,}87\ \mathrm{k\Omega}}} & \end{array}
(1 Punkt) Mit z. B. 4{,}7\ \mathrm{k\Omega} ergibt sich t_\mathrm{r} \approx 597\ \mathrm{ns}. Nach unten begrenzt der zulässige Low-Strom der Ausgänge den Widerstand (bei 3\ \mathrm{mA} und 0{,}4\ \mathrm{V} Low-Pegel etwa 967\ \Omega).
Begründung (1 Punkt): Der Logikanalysator zeigt nur, ob die Spannung zum Abtastzeitpunkt über oder unter seiner Schaltschwelle lag. Die langsame Flanke selbst und ihre Anstiegszeit sieht er nicht; die Bitfehler könnten ebenso von Störimpulsen kommen. Den Nachweis führst Du mit dem Oszilloskop an SDA und SCL (oder mit den analogen Kanälen eines Mixed-Signal-Oszilloskops).
i) Nenne vier Angaben, die in den Eintrag des Prüfprotokolls zur Fehlersuche an der I²C-Schnittstelle gehören, und begründe, warum Du die Aufzeichnung zusätzlich als Datei speicherst. (2 Punkte)
Ges.: vier Angaben im Prüfprotokoll, Begründung für die gespeicherte Aufzeichnung
Vier Angaben (1 Punkt), z. B.:
Baugruppe, Prüfschritt, Datum und Name,
Messpunkte und Kanalzuordnung (SCL, SDA, GND),
Geräteeinstellungen: Schaltschwelle 1{,}65\ \mathrm{V}, Abtastrate 20\ \mathrm{MSa/s}, Trigger, Dekoder-Parameter,
Soll laut Datenblatt (Adresse
0x38, Wandlungszeit mindestens 15\ \mathrm{ms}) und Ist (Adresse0x39mit NACK, Lesen nach 4\ \mathrm{ms} mit NACK),Bewertung, Fehlerursache und Maßnahme (Adresse und Wartezeit in der Software geändert, Pull-ups getauscht).
Begründung (1 Punkt): Die gespeicherte Aufzeichnung lässt sich später erneut und mit anderen Dekoder-Einstellungen auswerten und mit einer Messung nach der Reparatur vergleichen; sie belegt den Befund nachvollziehbar.
Aufgabe 4.1: Abtastrate, Aliasing und Anstiegszeit (Expertise)
(ca. 12 min Bearbeitungszeit)
Am Ausgang der Pufferstufe aus Aufgabe 2.1 liegt ein Sinus mit f = 277\ \mathrm{kHz}. Eine nachfolgende Schmitt-Trigger-Stufe macht daraus ein Rechtecksignal für den Mikrocontroller der Auswertung. Dein Speicheroszilloskop hat eine Bandbreite von B = 50\ \mathrm{MHz}, eine höchste Abtastrate von 500\ \mathrm{MSa/s} und eine Speichertiefe von 10\ \mathrm{kpts}. Der Bildschirm hat 10 Teilungen waagerecht.
a) Eine Mitschülerin hat den Zeitablenkkoeffizienten auf 5\ \mathrm{ms/div} gestellt, um einen längeren Zeitraum zu beobachten. Berechne die Abtastrate, mit der das Oszilloskop dann arbeitet. (2 Punkte)
Geg.: f = 277\ \mathrm{kHz}; B = 50\ \mathrm{MHz}; höchste Abtastrate 500\ \mathrm{MSa/s}; Speichertiefe N = 10\ \mathrm{kpts}; 10\ \mathrm{div} waagerecht; Zeitablenkkoeffizient 5\ \mathrm{ms/div}
Ges.: Abtastrate f_\mathrm{A}
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_\mathrm{A} = \frac{N}{10\ \mathrm{div} \cdot \text{Zeitablenkkoeffizient}} \end{aligned}
f_\mathrm{A} = \frac{10\,000}{10\ \mathrm{div} \cdot 5\ \tfrac{\mathrm{ms}}{\mathrm{div}}} = \frac{10\,000}{50\ \mathrm{ms}} = \underline{\underline{200\ \mathrm{kSa/s}}}
(2 Punkte; das liegt weit unter der höchsten Abtastrate, die deshalb nicht begrenzt)
b) Begründe, ob bei dieser Einstellung Aliasing auftritt, und berechne die Frequenz, die das Oszilloskop dann scheinbar anzeigt. (4 Punkte)
Ges.: Aliasing ja/nein mit Begründung, f_\mathrm{Alias}
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_\mathrm{A} > 2 \cdot f \\ &\text{(II)} && f_\mathrm{Alias} = \left| f - k \cdot f_\mathrm{A} \right| \end{aligned}
2 \cdot f = 2 \cdot 277\ \mathrm{kHz} = 554\ \mathrm{kHz} > f_\mathrm{A} = 200\ \mathrm{kSa/s}
Das Abtasttheorem ist verletzt, es tritt Aliasing auf (2 Punkte).
Mit k = 1:
f_\mathrm{Alias} = \left| 277\ \mathrm{kHz} - 1 \cdot 200\ \mathrm{kHz} \right| = \underline{\underline{77{,}0\ \mathrm{kHz}}}
(2 Punkte) Das liegt unter f_\mathrm{A} : 2 = 100\ \mathrm{kHz}, also ist k = 1 richtig gewählt. Das Oszilloskop zeigt einen scheinbar sauberen Sinus mit etwa 77\ \mathrm{kHz}.
c) Bestimme den größten Zeitablenkkoeffizienten der Reihe 1 – 2 – 5, bei dem jede Periode mit mindestens 10 Abtastwerten erfasst wird. (3 Punkte)
Ges.: größter Zeitablenkkoeffizient für mindestens 10 Abtastwerte je Periode
\begin{aligned} &\text{(I)} && f_\mathrm{A} \geq 10 \cdot f \\ &\text{(II)} && f_\mathrm{A} = \frac{N}{10\ \mathrm{div} \cdot \text{Zeitablenkkoeffizient}} \end{aligned}
I in II eingesetzt und nach dem Zeitablenkkoeffizienten umgestellt:
\def\arraystretch{2.3} \begin{array}{rcl|l} \frac{N}{10\ \mathrm{div} \cdot \text{Zeitablenkkoeffizient}} & \geq & 10 \cdot f & \color{gray}{\cdot \text{Zeitablenkkoeffizient} : (10 \cdot f)} \\ \text{Zeitablenkkoeffizient} & \leq & \frac{N}{10\ \mathrm{div} \cdot 10 \cdot f} & \\ \text{Zeitablenkkoeffizient} & \leq & \frac{10\,000}{10\ \mathrm{div} \cdot 10 \cdot 277\ \mathrm{kHz}} & \\ \text{Zeitablenkkoeffizient} & \leq & 0{,}361\ \tfrac{\mathrm{ms}}{\mathrm{div}} & \end{array}
(2 Punkte)
Zum Vergleich die Stufen um den Grenzwert:
| Zeitablenkkoeffizient | Abtastrate f_\mathrm{A} | Abtastwerte je Periode |
|---|---|---|
| 1\ \mathrm{ms/div} | 1\ \mathrm{MSa/s} | 3{,}6 (zu wenig) |
| 0{,}5\ \mathrm{ms/div} | 2\ \mathrm{MSa/s} | 7{,}2 (zu wenig) |
| 0{,}2\ \mathrm{ms/div} | 5\ \mathrm{MSa/s} | 18{,}1 |
| 0{,}1\ \mathrm{ms/div} | 10\ \mathrm{MSa/s} | 36{,}1 |
Der nächstkleinere Wert der Reihe 1 – 2 – 5 ist \underline{\underline{0{,}2\ \mathrm{ms/div}}}. Dann ist f_\mathrm{A} = \frac{10\,000}{2\ \mathrm{ms}} = 5\ \mathrm{MSa/s}, also rund 18 Abtastwerte je Periode und weniger als die höchste Abtastrate von 500\ \mathrm{MSa/s} (1 Punkt).
d) Am Ausgang der Schmitt-Trigger-Stufe zeigt die automatische Messung eine Anstiegszeit von 12\ \mathrm{ns}. Berechne die wahre Anstiegszeit des Signals und beurteile, ob das Oszilloskop für diese Messung ausreicht. (4 Punkte)
Geg.: angezeigte Anstiegszeit t_\mathrm{r,ang} = 12\ \mathrm{ns}
Ges.: t_\mathrm{r,Sig}, Beurteilung
\begin{aligned} &\text{(I)} && t_\mathrm{r,Osz} = \frac{0{,}35}{B} \\ &\text{(II)} && t_\mathrm{r,ang}^2 = t_\mathrm{r,Sig}^2 + t_\mathrm{r,Osz}^2 \end{aligned}
t_\mathrm{r,Osz} = \frac{0{,}35}{50\ \mathrm{MHz}} = \underline{\underline{7{,}00\ \mathrm{ns}}}
(1 Punkt)
\def\arraystretch{2.3} \begin{array}{rcl|l} t_\mathrm{r,ang}^2 & = & t_\mathrm{r,Sig}^2 + t_\mathrm{r,Osz}^2 & \color{gray}{- t_\mathrm{r,Osz}^2} \\ t_\mathrm{r,Sig}^2 & = & t_\mathrm{r,ang}^2 - t_\mathrm{r,Osz}^2 & \color{gray}{\sqrt{\ }} \\ t_\mathrm{r,Sig} & = & \sqrt{t_\mathrm{r,ang}^2 - t_\mathrm{r,Osz}^2} & \\ t_\mathrm{r,Sig} & = & \sqrt{(12\ \mathrm{ns})^2 - (7{,}00\ \mathrm{ns})^2} & \\ t_\mathrm{r,Sig} & \approx & \underline{\underline{9{,}75\ \mathrm{ns}}} & \end{array}
(2 Punkte)
Beurteilung (1 Punkt): Die Anstiegszeit des Oszilloskops (7\ \mathrm{ns}) ist fast so groß wie die des Signals; nach der Faustregel dürfte sie höchstens ein Drittel bis ein Fünftel betragen, also etwa 2 bis 3{,}3\ \mathrm{ns}. Die Anzeige ist rund 23 % zu groß, das Oszilloskop reicht für eine genaue Messung nicht aus. Nötig wäre eine Bandbreite von etwa \frac{0{,}35}{3{,}25\ \mathrm{ns}} \approx 110\ \mathrm{MHz} bis \frac{0{,}35}{1{,}95\ \mathrm{ns}} \approx 180\ \mathrm{MHz} (mit passendem Tastkopf). Für die Funktion der Schaltung genügt die Aussage, dass die Flanke schneller als etwa 10\ \mathrm{ns} ist.
Links und weitere Informationen
zum Nachlesen: Messungen mit dem Oszilloskop: Tastkopf, Triggerung, Zeit-, Frequenz- und Phasenmessung
zum Wiederholen: Übungsaufgaben zu Oszilloskop und Funktionsgenerator
zu den Schnittstellen: I²C-Bus, UART und RS-232, SPI-Bus
als Nachschlagewerk: Wikipedia: Frequenzzähler
Hinweis zur Nachnutzung als Open Educational Resource (OER)
Dieser Artikel und seine Texte, Bilder, Grafiken, Code und sonstiger Inhalt sind - sofern nicht anders angegeben - lizenziert unter CC BY 4.0. Nennung gemäß TULLU-Regel bitte wie folgt: “Übungsaufgaben zu Messungen mit dem Oszilloskop: Tastkopf, Frequenzzähler, Triggerung und Abtastrate” von oer-informatik.de (H. Stein), Lizenz: CC BY 4.0. Der Artikel wurde unter https://oer-informatik.de/oszilloskop-messungen-uebungsaufgaben veröffentlicht, die Quelltexte sind in weiterverarbeitbarer Form verfügbar im Repository unter https://gitlab.com/oer-informatik/elektrotechnik/messtechnik. Erstellt mit KI-Assistenz; von mir umfassend redaktionell überarbeitet, geprüft und freigegeben. Stand: 11.11.2026.
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